Artículo de Revista
22 de Enero, 2018
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Fuente: Crossref (02/12/2025)
EUV polarimetry for thin film and surface characterization and EUV phase retarder reflector development
A. E. H. Gaballah, P. Nicolosi, Nadeem Ahmed, K. Jimenez, G. Pettinari, A. Gerardino, P. Zuppella
Review of Scientific Instruments • Vol. 89 (1) • AIP Publishing
